英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP

       無論對分(fen)析速度(du)的(de)要求有多(duo)高，我(wo)們創新的(de)CCI光學裝置非(fei)接(jie)觸(chu)式光學輪廓儀都能為您提供(gong)精密的(de)3D表(biao)面(mian)測(ce)量結(jie)果(guo)。 高分(fen)辨(bian)率相機與1/10埃垂直分(fen)辨(bian)率相結(jie)合，無論是測(ce)量非(fei)常粗(cu)糙的(de)表(biao)面(mian)，還是測(ce)量極其光滑(hua)的(de)表(biao)面(mian)，都能獲得令人不可思議的(de)詳細分(fen)析。

●2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率

●全量程0.1埃的分(fen)辨率

●輕(qing)松測量反射率為0.3% - 100%的(de)各種表面

●RMS重(zhong)復精度(du)<0.2埃，階躍(yue)高度(du)重(zhong)復精度(du)<0.1%

●多語言(yan)版本的64位控制和分析軟(ruan)件

先進的光學干涉測量技術
&nbsp;• 非壓電(dian)陶瓷閉環Z軸掃描控(kong)制，2.2毫米掃描范(fan)圍
 • 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米(mi)
 • 1024 &nbsp;x  1024像素陣列可(ke)獲得高分辨(bian)率的大視場
 • 增強了角度(du)靈敏度(du)，能夠得到(dao)更好的(de)測量數(shu)據

從實質上消除測量的不確定性
 • RMS重復(fu)性(xing)小(xiao)于0.2埃(ai)，臺階高度重復(fu)性(xing)小(xiao)于0.1%
 • 整個測量量程有著(zhu)0.1埃分辨率
 • FEA優化(hua)機(ji)械設(she)計(ji)，具備出色的R&R能力
 &bull; 采(cai)用(yong)ISO標準的校準，確(que)保(bao)結(jie)果的可信度

追求長期成本效益的堅固耐用設計

 • 非(fei)壓電(dian)Z軸(zhou)掃描控制(zhi)可省去昂貴的(de)維修費用
 • 自動表面檢測可(ke)防止撞壞鏡頭
 • ;內置自我診斷工具可(ke)快(kuai)速、輕(qing)松地(di)排(pai)除(chu)故障
 &bull; 操作(zuo)的簡(jian)便性(xing)可減少使用者出錯(cuo)可能

64位控制和分析軟件
 • 包括中文、日文在(zai)內的多語種支(zhi)持
&nbsp;• 兼(jian)容(rong)大多數(shu)計(ji)算機平臺，有利于開展(zhan)合作性研究項目(mu)
 • 提供多種新(xin)工具，包(bao)括3D表面隨時間演變過(guo)程中進行4D分析
 • 根據多批次(ci)測量數據自動(dong)生(sheng)成(cheng)報告