德國EPK F20 測厚儀探頭 測厚范圍0~20000um
德國EPK 測(ce)(ce)厚儀探頭(tou)F20是MiniTest 1100/2100/3100/4100的選(xuan)配探頭(tou)，測(ce)(ce)厚范(fan)圍為(wei)0~20000um，F20探頭(tou)是磁性探頭(tou)，測(ce)(ce)試(shi)分辨率為(wei)10μm。

德國EPK 測厚儀探(tan)頭(tou)F20是適合(he)測量(liang)鋼結構（如水箱、管(guan)道等）上的防(fang)腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝(ning)土等的磁性測(ce)頭(tou)，測(ce)量(liang)量程低端分辨率為(wei)10μm。

MiniTest 標準(zhun)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)與特殊(shu)(shu)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是涂層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀的核心(xin)部件(jian)。為了符合(he)客戶的不同要(yao)求(qiu)(qiu)，我(wo)們除(chu)了供應符合(he)常規要(yao)求(qiu)(qiu)的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)以(yi)外， 還可以(yi)為客戶定做適合(he)特殊(shu)(shu)用(yong)(yong)途(tu)的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)。EPK公(gong)司的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)是現代生產技(ji)術和(he)50多年表面(mian)處(chu)理(li)經驗的 *結晶。 智能化(hua)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) EPK公(gong)司開發出了一系列“智能化(hua)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)"，即(ji)同一臺主(zhu)機可連(lian)接不同的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)來使用(yong)(yong)。測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的參數和(he) 特性曲線存(cun)儲(chu)在(zai)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)里，由(you)主(zhu)機的微處(chu)理(li)器處(chu)理(li)。客戶可以(yi)根據(ju)自己(ji)的特殊(shu)(shu)要(yao)求(qiu)(qiu)修(xiu)訂這一曲線。 耐(nai)磨測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 在(zai)制(zhi)造測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)時(shi)，EPK公(gong)司大量運用(yong)(yong)鐘表業的精密生產工(gong)藝。為保(bao)證其使用(yong)(yong)壽(shou)命，所有測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)都經過特 殊(shu)(shu)工(gong)藝處(chu)理(li)，可以(yi)有效避免(mian)在(zai)長期(qi)使用(yong)(yong)后留(liu)下磨痕(hen)。測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)的接觸端(duan)部使用(yong)(yong)寶石(shi)、硬質金屬與特殊(shu)(shu)合(he)金 等高(gao)耐(nai)磨材(cai)料。測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)尖(jian)的表面(mian)經過打磨，及時(shi)在(zai)易損的物體上測(ce)(ce)(ce)量也不會(hui)留(liu)下痕(hen)跡(ji)。 兩用(yong)(yong)型(xing)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou) 對于那些需要(yao)在(zai)鋼鐵和(he)有色金屬基體上都進行測(ce)(ce)(ce)量的用(yong)(yong)戶，EPK公(gong)司研制(zhi)出的兩用(yong)(yong)的FN型(xing)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)，可 以(yi)用(yong)(yong)一直測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)解決F和(he)N兩類(lei)測(ce)(ce)(ce)量問(wen)題(ti)。